|
BKTEM-B1型薄膜熱電參數測試系統
BKTEM-B1型薄膜熱電參數測試系統
關鍵詞：熱電，賽貝克系數，電阻率
BKTEM-B1型薄膜熱電參數測試系統薄膜熱電參數測試系統MRS-3RT專門針對常溫下薄膜材料的澤貝克系數和電阻率的測量儀器，采用動態法和四線法保證測試結果的準確和穩定，擁有寬廣的測試范圍和便捷的操作界面。
產品特點
● 專門針對薄膜材料的Seebeck系數和電阻率測量。
● 測試環境溫度范圍達到81K~700K。
● 采用動態法測 量Seebeck系數，避免了靜態測量在溫差測量上的系統誤差，測量更準確。
● 采用四線法測量電阻率。
● 卡箍設計，方便進行樣品更換，提高效率。
● 軟件操作簡單，智能化可實現全自動模式。
產品技術參數
|
型號
|
BKTEM-B1
|
|
溫度范圍
|
RT
|
|
測試氣氛
|
空氣
|
|
測量范圍
|
賽貝克系數：|S| ≥ 8μV/K
電阻率：0.1μΩ•m ~ 106μΩ•m
|
|
分辨率
|
澤貝克系數：0.05μV/K
電阻率：0.05μΩ•m
|
|
相對誤差
|
賽貝克系數 ≤ ±7%
電阻率 ≤ ±10%
|
|
樣品尺寸
|
長度:10mm~18mm；寬度:2mm~7mm；厚度：50nm~2mm
|
|
主機尺寸
|
170x250x220（mm）
|
|
重量
|
3.5kg
|
|
