圖示為實(shí)驗(yàn)室模擬過電壓測(cè)試環(huán)境。采集卡（250MS/s 1ch 12bit）放置在等電位箱體內(nèi)，敞開放置。高壓放電經(jīng)高壓衰減器接入，采集卡設(shè)置為高阻輸入，采用電池供電。量化后的數(shù)據(jù)由光纖經(jīng)光交換機(jī)傳至上位機(jī)。

設(shè)置采樣率250MSps，觸發(fā)采集長(zhǎng)度500ms，預(yù)觸發(fā)長(zhǎng)度50ms，得到波形：

第一次放電脈沖局部放大圖：